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ITC測試機(jī)發(fā)熱時，如何讓它快速降溫？

2.機(jī)柜風(fēng)扇散熱

假設(shè)說一個會議室我們有較多的主機(jī)、功放、電源時序器等設(shè)備，那么可以考慮采購大一些的機(jī)柜。機(jī)柜設(shè)計時是考慮過散熱問題的，可以選配風(fēng)扇，這也是為什么我們建議客戶朋友們置辦機(jī)柜的時分要買比設(shè)備總體體積要大很多的機(jī)柜，渙散的排列方式便于設(shè)備之間更好的通風(fēng)散熱，便于熱空氣的及時排出。同時有一些主機(jī)設(shè)備自帶風(fēng)扇，假設(shè)兩個設(shè)備間距太小，影響空氣對流，不只會影響散熱也會使風(fēng)扇工作的噪音變大。

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視頻作者：深圳市億昇精密光電科技有限公司

我們已經(jīng)有了一個功能測試架。為什么我們需要一個ICT在線測試器？

1.功能測試架只告訴你這個電路板有問題，你還是不知道哪個元器件或者觸點(diǎn)壞了，還得靠工程師慢慢找原因。而ICT會直接告訴你哪個組件或者哪個點(diǎn)有問題。

2.有些電路板功能基本正常，但性能較差或存在隱患。因?yàn)楣δ軠y試架只測試其功能，所以這個問題無法測試。ICT是一臺經(jīng)過檢查的機(jī)器，所有組件都必須在我們設(shè)定的范圍內(nèi)才能通過。

3.ICT也帶來許多好處。

ICT測試盲點(diǎn)的原因

8.電容器的電容太小，測試通常不準(zhǔn)確。

9.IC，晶體振蕩器，可調(diào)電阻器（VR），熱敏電阻，浪涌吸收器和其他組件的內(nèi)部性能無法測量或無法準(zhǔn)確測試。

10.二極管和晶體管與大電容器并聯(lián)銜接，無法測量二極管和晶體管。

11.組件的上下點(diǎn)在同一個短路組中，并且這些組件不可測試。

12.在IC空焊測試過程中，假設(shè)被測IC的引腳和電容器并聯(lián)銜接，則該引腳假設(shè)斷開則不能中止測試。

13.小電容器與大電容器（C1//C2）并聯(lián)銜接，無法測量小電容器。普通來說，C2的電容是C1的10倍以上。C1是不可預(yù)測的。